Хейкер, Даниэль Моисеевич

Материал из Википедии — свободной энциклопедии
Перейти к навигации Перейти к поиску
В Википедии есть статьи о других людях с такой фамилией, см. Хейкер.
Даниэль Моисеевич Хейкер
Дата рождения 4 апреля 1930(1930-04-04)
Место рождения Житомир
Дата смерти 23 мая 2018(2018-05-23) (88 лет)
Страна  СССР →  Россия
Научная сфера кристаллография
Альма-матер МИФИ
Учёная степень доктор физико-математических наук
Учёное звание профессор
Награды и премии Заслуженные деятели науки Российской Федерации

Даниэль Моисеевич Хейкер (4 апреля 1930 года, Житомир — 23 мая 2018 года, Москва) — физик, глава отечественной школы рентгеновской дифрактометрии, крупный специалист в области рентгеноструктурного анализа и научного приборостроения, доктор физико-математических наук, профессор, заслуженный деятель науки РФ (1998).

Биография[править | править код]

Родился 4 апреля 1930 года в Житомире. Закончив с серебряной медалью среднюю школу, в 1947 г. поступил в Московский инженерно-физический институт (окончил в 1953 году, с отличием) и активно участвовал в научных исследованиях под руководством профессора Г. С. Жданова.[1] Тогда были опубликованы его первые работы: «Структура сверхпроводников. Рентгенографическое исследование BiPd» и «Простой метод расчета множителя поглощения в рентгеноструктурном анализе».

В 1963 г. Д. М. Хейкер с отличием окончил МИФИ и поступил на работу инженером в ВНИИ Асбестцемент. Там создал и возглавил лабораторию физических методов исследования с аппаратурой для электронной микроскопии, ИК-спектроскопии и рентгеновской дифрактометрии.

В 1958 г. Д. М. Хейкер защитил кандидатскую диссертацию на тему «Дифрактометрические методы решения некоторых основных задач рентгеноструктурного анализа».

С 1964 по 2015 г. работал в Институте кристаллографии АН СССР (РАН). Здесь им были созданы эффективные методики дифрактометрического исследования разнообразных монокристаллов, в том числе жидких и кристаллов белков, а также поликристаллических и полимерных материалов.

В 1972 г. защитил докторскую диссертацию «Рентгеновская дифрактометрия» : диссертация… доктора физико-математических наук : 01.00.00. — Москва, 1971. — 278 с.

Д. М. Хейкер внёс значительный вклад в развитие отечественного приборостроения и создание отечественных рентгеновских дифрактометров. Под руководством Д. М. Хейкера были созданы сцинтилляционный и пропорциональный счётчики, а также многочисленные гониометрические приставки к серийному рентгеновскому дифрактометру. Эти разработки были положены в основу создания рентгеновского дифрактометра общего назначения ДРОН в НПО «Буревестник».

Совместно с СКБ Института кристаллографии и НПО «Буревестник» под его руководством были разработаны автоматические наклонные дифрактометры типа ДАР и четырёхкружный автоматический дифрактометр для монокристаллов типа РЭД. Дифрактометры ДАР и РЭД выпускались малыми сериями, и ими были оснащены многие лаборатории СССР.

С середины 1970-х гг. вёл работы по разработке и изготовлению автоматических рентгеновских дифрактометров с координатными двумерными детекторами.

На базе СКБ Института кристаллографии и НПО «Буревестник» под его руководством был разработан и изготовлен многоканальный дифрактометр для исследования белков ДАРК 2.0.

В 1980 г. совместно с учёными ЛВЭ ОИЯИ (Дубна) и СКБ Института кристаллографии создал дифрактометр КАРД с двумерным детектором на основе пропорциональной камеры с 256 х 256 элементами пространственного разрешения. В течение многих лет на этом приборе в стране исследовались сотни образцов монокристаллов белков и их производных, а также вирусов.

Д. М. Хейкер вместе с коллегами занимался разработкой станций для рентгеноструктурного анализа на пучках синхротронного излучения. В 2006 г. были завершены работы по созданию первой в России станции белковой кристаллографии «Белок» на накопителе «Сибирь 2» и начата её регулярная эксплуатация.

При активном участии Д. М. Хейкера было завершено создание многоцелевой станции рентгеноструктурного анализа «РСА» на боковом пучке из вигглера накопителя «Сибирь 2», которая позволила с высокой точностью и чувствительностью исследовать атомную структуру, включая наноструктуру на монокристаллических и порошковых образцах, а также измерять с высокой точностью диффузный фон для определения структуры нанокластеров в монокристаллах.

Награды и звания[править | править код]

Заслуженный деятель науки РФ (1998). Награждён медалями «За доблестный труд» и «Ветеран труда», шестью медалями ВДНХ.

Научные труды[править | править код]

  • Рентгеновская дифрактометрия [Текст] / Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; Под ред. проф. Г. С. Жданова. — Москва : Физматгиз, 1963. — 380 с.[2]
  • Рентгеновские методы исследования строительных материалов [Текст] / Л. С. Зевин, Д. М. Хейкер. — Москва : Стройиздат, 1965. — 362 с.
  • Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов [Текст]. — Ленинград : Машиностроение. [Ленингр. отд-ние], 1973. — 256 с.
  • A Coordinate X-Ray Diffractometer Based on a Two-Dimensional Proportional Chamber and a Two-Circle Goniometer. Andrianova M.E., Kheiker D.M., Popov A.N., Simonov V.I., Anisimov Yu.S., Chernenko S.P., Ivanov A.V., Movchan S.A., Peshekhonov V.D., Zanevsky Yu.V. — Journal of Applied Crystallography. 1982. Т. 15. С. 626.[3]
  • Using a Two-Dimensional Detector for X-ray Powder Diffractometry. Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. — Journal of Applied Crystallography. 1994. Т. 27. № pt 6. С. 934—942.[4]
  • Кристалл-монохроматор с большой кривизной сагиттального изгиба. Хейкер Д. М., Шишков В. А., Шилин Ю. Н., Русаков А. А., Дороватовский П. В., Жаворонков Н. В. — Кристаллография. 2007. Т. 52. № 4. С. 767—769.[5]
  • Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя «Сибирь-2». Хейкер Д. М., Ковальчук М. В., Шилин Ю. Н., Шишков В. А., Сульянов С. Н., Дороватовский П. В., Русаков А. А. — Кристаллография. 2007. Т. 52. № 2. С. 374—380.[6]
  • Станция рентгеноструктурного анализа материалов и монокристаллов, включая нанокристаллы, на СИ из вигглера накопителя «Сибирь-2». Хейкер Д. М., Ковальчук М. В., Корчуганов В. Н., Шилин Ю. Н., Шишков В. А., Сульянов С. Н., Дороватовский П. В., Рубинский С. В., Русаков А. А. — Кристаллография. 2007. Т. 52. № 6. С. 1145—1152.[7]
  • Тепловые деформации в фокусирующих каналах станций рентгеноструктурного анализа накопителя «Сибирь-2». Хейкер Д. М., Коноплев Е. Е., Молоденский Д. С., Шишков В. А., Дороватовский П. В. -Кристаллография. 2010. Т. 55. № 5. С. 954—960.[8]
  • Эффективность фокусирующего канала станции «Белок» на накопителе «Сибирь-2». Молоденский Д. С., Дороватовский П. В., Забродский В. В., Хейкер Д. М. — Кристаллография. 2010. Т. 55. № 5. С. 949—953.[9]
  • Расчет параметров станции рентгеноструктурного анализа (РСА) с адаптивной сегментированной оптикой на боковом пучке вигглера в накопителе «Сибирь-2». Молоденский Д. С., Хейкер Д. М., Корчуганов В. Н., Коноплев Е. Е., Дороватовский П. В. — Кристаллография. 2012. Т. 57. № 3. С. 520.[10]

Патенты[править | править код]

  • Устройство для формирования рентгеновского пучка и устройство для изгиба кристалла[11]
  • Фокусирующий монохроматор[12]

Примечания[править | править код]

  1. ↑ ДАНИЭЛЬ МОИСЕЕВИЧ ХЕЙКЕР (К 85-ЛЕТИЮ СО ДНЯ РОЖДЕНИЯ) // Кристаллография. — 2015. — Т. 60, вып. 2. — ISSN 0023-4761. Архивировано 17 октября 2021 года.
  2. ↑ Рентгеновская дифрактометрия [Текст] / Д. М. Хейкер, Л. С. Зевин ; Под ред. проф. Г. С. Жданова. — Москва : Физматгиз, 1963. — 380 с. [Текст] — Search RSL. search.rsl.ru. Дата обращения: 2 ноября 2020.
  3. ↑ M. E. Andrianova, D. M. Kheiker, A. N. Popov, V. I. Simonov, Y. S. Anisimov. A coordinate X-ray diffractometer based on a two-dimensional proportional chamber and a two-circle goniometer (англ.) // Journal of Applied Crystallography. — 1982-12-01. — Vol. 15, iss. 6. — P. 626–631. — ISSN 0021-8898. — doi:10.1107/S0021889882012801. Архивировано 3 июня 2018 года.
  4. ↑ S. N. Sulyanov, A. N. Popov, D. M. Kheiker. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry (англ.) // Journal of Applied Crystallography. — 1994. — Vol. 27, iss. pt 6. — ISSN 1600-5767 0021-8898, 1600-5767. — doi:10.1107/S002188989400539X.
  5. ↑ Д. М. Хейкер, В. А. Шишков, Ю. Н. Шилин, А. А. Русаков, П. В. Дороватовский. Кристалл-Монохроматор С Большой Кривизной Сагиттального Изгиба // Кристаллография. — 2007. — Т. 52, вып. 4. — ISSN 0023-4761.
  6. ↑ Д. М. Хейкер, М. В. Ковальчук, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков, С. Н. Сульянов. Станция Белковой Кристаллографии На Пучке Си Из Поворотного Магнита Накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. — 2007. — Т. 52, вып. 2. — ISSN 0023-4761.
  7. ↑ Д. М. Хейкер, М. В. Ковальчук, В. Н. Корчуганов, Ю. Н. Шилин, В. А. Шишков. Станция Рентгеноструктурного Анализа Материалов И Монокристаллов, Включая Нанокристаллы, На Си Из Вигглера Накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. — 2007. — Т. 52, вып. 6. — ISSN 0023-4761.
  8. ↑ Д. М. Хейкер, Е. Е. Коноплев, Д. С. Молоденский, В. А. Шишков, П. В. Дороватовский. Тепловые Деформации В Фокусирующих Каналах Станций Рентгеноструктурного Анализа Накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. — 2010. — Т. 55, вып. 5. — ISSN 0023-4761.
  9. ↑ Д. С. Молоденский, П. В. Дороватовский, В. В. Забродский, Д. М. Хейкер. Эффективность Фокусирующего Канала Станции «Белок» На Накопителе «Сибирь-2» // Кристаллография. — 2010. — Т. 55, вып. 5. — ISSN 0023-4761.
  10. ↑ Д. С. Молоденский, Д. М. Хейкер, В. Н. Корчуганов, Е. Е. Коноплев, П. В. Дороватовский. Расчет Параметров Станции Рентгеноструктурного Анализа (рса) С Адаптивной Сегментированной Оптикой На Боковом Пучке Вигглера В Накопителе «Сибирь-2» // Кристаллография. — 2012. — Т. 57, вып. 3. — ISSN 0023-4761.
  11. ↑ устройство для формирования рентгеновского пучка и устройство для изгиба кристалла — патент РФ 2260218 — Ковальчук М. В., Желудева С. И., Лидер В. В., Хейкер Д. М., Шишков В. А., Шилин Ю. Н., Добрынин Г. И. www.freepatent.ru. Дата обращения: 3 ноября 2020. Архивировано 7 октября 2013 года.
  12. ↑ фокусирующий монохроматор — патент РФ 2248559 — Хейкер Д. М., Шишков В. А., Шилин Ю. Н. www.freepatent.ru. Дата обращения: 3 ноября 2020. Архивировано 17 октября 2013 года.
Источник — https://ru.wikipedia.org/w/index.php?title=Хейкер,_Даниэль_Моисеевич&oldid=135084694